XPS、UPS测试，科研实验室（非第三方！！自己测试）基本当天可以出结果！测试功能:全谱 窄谱  深度剖析 价带(UPS测试)UPS刻蚀60nm一层 刻蚀30/次 样品要求：可为粉末、块状、薄膜样品，块体限制大小，长宽不超过5*5mm，高度不超过3mm，或者送过来我们裁小，测试前可私聊X射线光电子能谱（XPS）测试收到样品后一般1-2个工作日完成，5个元素以内80，多一个元素加20偏压模式和无偏压模式：无偏压模式验证样品导电性、测定价带顶偏压模式测定功函数、验证半导体类型（N/P型）